X-RAY檢測(cè)設(shè)備是利用x射線(xiàn)穿透樣品,對(duì)樣品內(nèi)部進(jìn)行分析的光學(xué)檢測(cè)儀器,由于采用了X射線(xiàn)無(wú)法穿透的鉛鋼板,因此工作人員在操作x射線(xiàn)檢測(cè)儀器時(shí),不必?fù)?dān)心輻射問(wèn)題。

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臺(tái)式掃描電鏡一般指臺(tái)式掃描電子顯微鏡，掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀(guān)察手段。

臺(tái)式掃描電鏡具有體積小巧、操作簡(jiǎn)便、價(jià)格便宜、快速抽真空等優(yōu)勢(shì),臺(tái)式掃描電子顯微鏡分辨力能滿(mǎn)足多數(shù)材料的顯微觀(guān)察。

半導(dǎo)體封裝是指將通過(guò)測(cè)試的晶圓按照產(chǎn)品型號(hào)及功能需求加工得到獨(dú)立芯片的過(guò)程。

半導(dǎo)體設(shè)備泛指用于生產(chǎn)各類(lèi)半導(dǎo)體產(chǎn)品所需的生產(chǎn)設(shè)備,屬于半導(dǎo)體行業(yè)產(chǎn)業(yè)鏈的關(guān)鍵支撐環(huán)節(jié)。